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HIOKI IM7587 - Analizador de impedancia de alta frecuencia, de 1 MHz a 3 GHz

Analizador de impedancia para mediciones de 1 MHz a 3 GHz con una precisión básica de ±0,65 % en Z y ±0,38° en fase, repetibilidad de ±0,07 %, tiempo de medición típico de 0,5 ms, funciones de comparador y BIN, USB, LAN y E/S EXT, RS-232C o GP-IB opcionales

Descripción

Información sobre el producto HIOKI IM7587 - Analizador de impedancia de alta frecuencia, de 1 MHz a 3 GHz


Especificaciones clave

  • Frecuencia de medición: de 1 MHz a 3 GHz 
  • Tiempo típico de medición analógica: 0,5 ms
  • Precisión básica: ±0,65 % (Z, lectura), ±0,38° (fase) 
  • Repetibilidad típica: ±0,07 % (p. ej., 1 nH a 3 GHz) 
  • Niveles de señal de prueba: de −40,0 dBm a +1,0 dBm 

Aplicaciones típicas

  • Caracterización en I+D de componentes de RF, tales como inductores en chip, perlas de ferrita, filtros, resonadores y dispositivos piezoeléctricos 
  • Análisis de impedancia en función de la frecuencia para el diseño de componentes y circuitos 
  • Evaluación de la resonancia y los picos de componentes piezoeléctricos y de RF 
  • Pruebas automatizadas de «aprobado/rechazado» de componentes de alta frecuencia en entornos de I+D y producción Modelos 

Comparación de modelos

Modelo Frecuencia de medición Niveles de señal de prueba
IM7587 1 MHz a 3 GHz de −40,0 dBm a +1,0 dBm
IM7585 De 1 MHz a 1,3 GHz De −40,0 dBm a +1,0 dBm
IM7583 De 1 MHz a 600 MHz De −40,0 dBm a +1,0 dBm
IM7581 De 100 kHz a 300 MHz De −40,0 dBm a +7,0 dBm


Descripción detallada del producto

Las mediciones de impedancia de hasta 3 GHz permiten el análisis de componentes de RF, por ejemplo, en aplicaciones de comunicación inalámbrica. Con un rango de frecuencias de 1 MHz a 3 GHz, el IM7587 permite caracterizar componentes como inductores en chip, perlas de ferrita, filtros, resonadores y redes de adaptación en el diseño de circuitos de RF. 

Rendimiento de medición y funciones de análisis

Con una precisión básica de ±0,65 % de impedancia y ±0,38° de fase, el IM7587 está diseñado para realizar mediciones precisas de impedancia hasta 3 GHz. La repetibilidad típica de aproximadamente ±0,07 % garantiza resultados de medición reproducibles en condiciones definidas en todo su rango de frecuencias. Un tiempo de medición típico de 0,5 ms permite barridos de frecuencia rápidos sin comprometer la estabilidad de la medición. Los niveles de señal de prueba, que van de −40,0 dBm a +1,0 dBm, permiten la excitación controlada de los dispositivos sometidos a prueba. 

El analizador admite los modos de medición LCR, de barrido y continua, y ofrece funciones de evaluación como el comparador y la clasificación por intervalos (BIN), así como análisis de área, picos y puntos . Se accede directamente a todos los ajustes de medición y funciones de análisis a través de la pantalla táctil a color integrada de 8,4 pulgadas. Las interfaces estándar incluyen USB, LAN y EXT I/O, con RS-232C y GP-IB opcionales. 

Para un análisis más avanzado, el IM7587 cuenta con una función de análisis de circuitos equivalentes con cinco modelos de circuitos representativos y selección automática del modelo basada en los datos de medición. Además de los modelos R-L-C de tres elementos, también admite un modelo de cuatro elementos diseñado para el análisis de dispositivos piezoeléctricos, lo que permite aplicaciones que van desde la caracterización general de componentes hasta la evaluación de resonadores. 

Cabezal de prueba y accesorios

El IM7587 emplea un cabezal de prueba compacto, del tamaño de la palma de la mano, conectado a la unidad principal mediante un cable de conexión específico. Está disponible con longitudes de cable de 1 m o 2 m, lo que permite a los usuarios equilibrar la precisión de la medición y la flexibilidad de instalación. Colocar el cabezal de prueba cerca del dispositivo sometido a prueba minimiza la longitud de la ruta de la señal y reduce la inductancia y la capacitancia parásitas que, de otro modo, afectarían a las mediciones de alta frecuencia. Este diseño garantiza resultados estables y reproducibles hasta 3 GHz, al tiempo que reduce los requisitos de espacio en los bancos de trabajo de los laboratorios de RF. 

Para la medición de componentes SMD, el IM7587 se utiliza habitualmente en combinación con el dispositivo de prueba SMD IM9201. El IM9201 está diseñado para seis tamaños estándar de encapsulados SMD, desde 0201 hasta 1210, y proporciona contactos inferiores estables de dos terminales en la interfaz del componente. La geometría de los contactos está diseñada para realizar mediciones en todo el rango de frecuencias de medición especificado. Los componentes se colocan sobre almohadillas de contacto definidas mediante un mecanismo de tope y empujador, lo que garantiza una alineación correcta y una colocación repetible. Esto reduce la variación en las mediciones y permite una caracterización precisa de los componentes SMD de RF , tales como inductores en chip, perlas de ferrita y filtros. 

Para un montaje estable, el accesorio de prueba IM9201 se instala en el soporte para accesorios de prueba IM9200. El soporte proporciona una base segura y una alineación mecánica definida entre el cabezal de prueba y el accesorio, e incluye una lupa para facilitar la manipulación de componentes pequeños. Se adaptador IM9906 es necesario para conectar la interfaz de 7 mm del dispositivo de prueba al conector de 3,5 mm del cabezal de prueba del analizador. 

Calibración e integridad de la medición

El kit de calibración opcional IM9905 proporciona patrones de referencia de CIRCUITO ABIERTO, CORTOCIRCUITO y CARGA para la corrección de errores de medición relacionados con el sistema en mediciones de impedancia de alta frecuencia de hasta 3 GHz. La calibración compensa los efectos parásitos en la ruta de medición hasta el plano de referencia definido, incluyendo el cabezal de prueba del analizador y las interfaces de conexión. Los patrones de calibración se conectan mediante el mismo adaptador IM9906 utilizado para los soportes de prueba. 

Se utilizan funciones exhaustivas de comprobación de contacto, que incluyen pruebas de DCR, rechazo de alta impedancia (Hi-Z) y verificación de formas de onda, para comprobar la calidad del contacto antes y, si es necesario, después de la medición. Esto ayuda a evitar resultados inválidos causados por un contacto insuficiente de la sonda o una colocación inestable de los componentes. Desarrollado y fabricado en Japón, el IM7587 está diseñado para ofrecer un rendimiento de medición estable a lo largo del tiempo en entornos de medición y prueba con altas exigencias en cuanto a la estabilidad a largo plazo.

Contenido de la caja

  • Analizador de impedancia IM7587 
  • Cabezal de prueba 
  • Cable de conexión 
  • Cable de alimentación
  • Manual de instrucciones
  • Software de aplicación del analizador de impedancia (manual de comunicaciones)

Dimensiones y embalaje

Longitud 215 mm
Ancho 348 mm
Altura 200 mm
Peso 8 kg
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